electron beam damage is always a da

electron beam damage is always a danger, and representative sampling becomes more difficult as the magnification increases.

Результаты (русский) 1:

повреждение пучка электронов всегда опасность и репрезентативной выборки становится более сложным, как увеличение увеличивается.

Результаты (русский) 2:

повреждение электронного пучка всегда существует опасность, и репрезентативная выборка становится все труднее по мере увеличения изображения.

Результаты (русский) 3:

пучок электронов ущерба - это всегда опасность, и репрезентативной выборки становится более сложным, как раз увеличивается.