The electron microscope offers impr

The electron microscope offers improved depth of field and higher resolution than the light microscope, as well as the possibility of in-place spectroscopy techniques. The scanning electron microscope images the surface of a material, while the transmission electron microscope reveals internal microstructure.
However there are some disadvantages. Electron microscope specimens are viewed under vacuum, the instruments cost significantly more than light microscopes, electron beam damage is always a danger, and representative sampling becomes more difficult as the magnification increases.
The ionizing nature of electron irradiation means that x-ray spectrometry and electron spectrometry, both powerful tools in their own right, can be performed in both scanning electron microscopy and transmission electron microscopy. The various signals detected spectroscopically can also be used to form images of the specimen, which reveal elemental distribution among other information. Electron spectroscopic signals permit not only elemental images to be formed but also images that reveal local changes in bonding, dielectric constant, thickness, band gap, and valence state.

Результаты (русский) 1:

Электронный микроскоп предлагает более глубины поля и высокое разрешение, чем световой микроскоп, а также возможность методы спектроскопии в месте. Сканирующий электронный микроскоп изображения поверхности материала, в то время как просвечивающий электронный микроскоп показывает внутреннюю микроструктуру. Однако есть некоторые недостатки. Электронный микроскоп образцы рассматриваются под вакуумом, инструменты стоят значительно больше, чем свет Микроскопы, повреждение пучка электронов всегда опасность, и репрезентативной выборки становится более сложным, как увеличение увеличивается.Ионизирующие характер электронного облучения означает, что рентгеновская спектрометрия и электронно-спектрометрии, как мощные инструменты в их собственном праве, может быть выполнена в скеннирования электронной микроскопии и просвечивающей электронной микроскопии. Различные сигналы обнаружены спектроскопически может также использоваться для формирования изображения образца, которые показывают элементарного распределения среди другой информации. Электрон спектральные сигналы позволяют не только elemental изображения формируется, но и образы, которые показывают локальные изменения в bonding, диэлектрическая постоянная, толщина, зазор полосы и валентном состоянии.

Результаты (русский) 2:

Электронный микроскоп обеспечивает улучшенную глубину резкости и более высокое разрешение , чем световой микроскоп, а также возможность методов спектроскопии на месте. Микроскоп изображения с помощью сканирующего электронного поверхность материала, в то время как просвечивающий электронный микроскоп показывает внутреннюю микроструктуру.
Однако есть некоторые недостатки. Образцы Электронно - микроскопические просматриваются под вакуумом, приборы стоят значительно больше , чем световых микроскопов, повреждение электронного пучка всегда существует опасность, и репрезентативная выборка становится все труднее по мере увеличения изображения .
Ионизирующее характер электронного облучения означает , что рентгеновская спектрометрия и электронно спектрометрия, как мощные инструменты сами по себе, могут быть выполнены как в сканирующей электронной микроскопии и просвечивающей электронной микроскопии. Различные сигналы , обнаруженные спектроскопически также могут быть использованы для формирования изображения образца, раскрывающие элементарную распределение среди прочей информации. Электронные спектроскопические сигналы позволяют не только элементарные изображения , чтобы быть сформированы , но и изображения , которые показывают локальные изменения в связи, диэлектрическая проницаемость, толщина, ширина запрещенной зоны, а также валентное состояние.

Результаты (русский) 3:

электронный микроскоп обеспечивает улучшенный глубину резкости и более высоким разрешением, чем свет, микроскоп, а также возможность на месте спектроскопия методов.электронный микроскоп изображений поверхности материала, хотя передача электронный микроскоп показывает внутренний микроструктуру.однако есть некоторые недостатки.электронный микроскоп образцы воспринимаются в вакууме, документам, стоимость значительно больше, чем свет, микроскопы, пучок электронов ущерба - это всегда опасность, и репрезентативной выборки становится более сложным, как раз увеличивается.ионизирующего облучения природы электронов рентгеновской спектрометрии и означает, что электрон - как мощные инструменты для их собственного права, может осуществляться в обоих сканирующий электронный микроскоп и просвечивающий электронный микроскоп.различные сигналы обнаружены spectroscopically может также использоваться для формы изображения образца, которые свидетельствуют об элементарной распределения между другими информации.электрон спектроскопических сигналов позволяет не только для изображения, которое будет сформировано, но и изображения, которые показывают изменения в местной связи, для постоянной, толщина, ионизация и валанс государства.